M²光束质量测量系统

一、产品概述

M²光束质量测量系统：一体化机身设计，配置高精度电动导轨及高分辨率光斑分析仪（2448×2448 像素），通过自主研发的分析软件一键式测量 M²因子、发散角、聚焦直径、束腰位置、瑞利长度等激光光束质量参数；整体准确度保持在 ±5% 以内，可测量连续激光及脉冲激光，光谱检测范围 340–1100nm。 产品由尚朴光电提供，具备稳定的性能与可靠的质量，可按客户需求提供选型、定制与技术支持。

二、核心参数

· 型号：CN0310VIS-M2-B
· 检验波长：340-1100nm
· M² 范围：1-50
· 最大入射光斑：≤5mm@355nm；≤7.5mm@532nm；≤10mm@1064nm（1/e²）
· 检测精度：≤5%
· 激光焦点位置精度：±10%
· 最大分辨率：2448×2448 pixels
· 激光功率范围：连续：1μW–10W/cm²；脉冲：10μJ–10mJ/cm²
· 衰减器：OD 0.5 / OD 1 / OD 1.5 / OD 2 / OD 3 / OD 4
· 接口：USB 3.0
· 行程：200mm（双倍光程），重负定位精度 ±5μm
· 控制器：RS232 接口，双轴
· 重量：<15kg
· 尺寸：500×250×175mm（参考）

三、典型应用

科研与工业应用；精密测量；OEM 系统集成；技术服务与支持。